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掀起激光粒度儀學術熱議 真理光學閃耀第十屆顆粒學會年會
  • 發布日期:2018-08-15      瀏覽次數:5462

    • 2018年8月10日,中國顆粒學會第十屆學術年會暨海峽兩岸顆粒技術研討會在遼寧省沈陽市盛大開幕,會期三天。真理光學儀器有限公司作為本次會議的贊助單位,以會議報告、儀器展示,禮品贊助等多種形式參與了此次盛會。

      真理光學科學家張福根博士在大會主場作了題為“激光衍射法粒度測量的若干基礎理論與技術問題研究”的報告,詳細闡述了激光粒度儀的測量原理。張博士從事激光粒度儀的研究和開發工作近30年,他帶領的真理光學研發團隊發現,散射光斑有時會隨顆粒的增大而增大,這種現象稱之為愛里斑尺寸的反常變化(ACAD)。真理光學研發團隊根據ACAD規律,開發出的反演算法,無需任何軟件方面的“特殊處理”,就能得到正確的測量結果。

       

       

      本次會議,真理光學展示了LT2200系列激光粒度分析儀和Spraylink超高速實時噴霧粒度分析儀,吸引眾多行業,學院教授和企業技術人員來到展臺咨詢及洽談。

       

       

      LT2200系列激光粒度儀加持了真理光學的偏振濾波技術,摒棄傳統的針孔和機械調整,實現高穩定激光偏振設置和空間濾波;測量速度高達創紀錄的每秒20000次,確保不漏檢任何粒徑和形狀的顆粒;LT2200系列粒度儀的粒徑范圍為0.02um-2200um, 適用于制藥,電池材料,地質,水文,化工和磨料等諸多行業的顆粒粒度分析。

      Spraylink系統使用優化的高靈敏度檢測和全息信號處理系統,并融合高濃度補償技術,可確保在高達90%的遮光度下測量霧滴顆粒的粒度分布。且無需更換透鏡,粒徑范圍高達0.1um-2080 um。

    聯系方式
    • 電話

      0756-8629811

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