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真理光學粒度儀新品及應用方案亮相2018碳化物技術交流會
  • 發布日期:2018-09-18      瀏覽次數:6005
    •     九月的古都開封,悄然間有了一絲秋意。9月15-17日,2018年碳化物粉體與陶瓷制備技術交流會在開封來旺達酒店順利召開。大會聚集了碳化物粉體行業的、企業及用戶,就此機會暢談碳化物陶瓷制備和測試技術以及碳化物粉體在各領域的應用。真理光學科學家張福根博士在會上作了題為《碳化硅粉體顆粒的表征技術》的報告,詳細闡述了碳化物粉體的粒度測試原理和方法。

       

           真理光學儀器有限公司作為本次會議的贊助單位,展出了性價比的LT2200系列激光粒度分析儀。多位與會嘉賓在展臺現場觀摩儀器,更有產品經理向嘉賓介紹產品性能和操作步驟。不少嘉賓留下了聯系方式,希望會后能夠深入交流。

       

           LT2200系列是真理光學繼LT3600系列激光粒度儀之后,基于用戶對高性價比粒度儀的需求而傾力打造的一代超高速智能激光粒度分析系統。LT2200系列加持了真理光學*的偏振濾波技術和衍射愛里斑反常變化(ACAD)的補償修正技術,用戶無需選擇分析模式,即可在全粒徑范圍獲得可靠的粒度結果。LT2200系列測量速度高達創紀錄的每秒20000次,粒徑范圍為0.02um-2200um,兼顧的靈敏度和重現性,能充分滿足碳化物粉體行業技術研究和質量控制的需要。

       

       

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